Cheng, Wu-Tung: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (156)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

A Minimum Test Set for Multiple Fault Detection in Ripple Carry Adders

Wu-Tung Cheng, Patel, J.H.

Журнал:

IEEE Transactions on Computers

Рік:

1987

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 1987

Parametric Delay Test of Post-Bond Through-Silicon Vias in 3-D ICs via Variable Output Thresholding Analysis

Yu-Hsiang Lin,, Shi-Yu Huang,, Kun-Han Tsai,, Wu-Tung Cheng,, Sunter, S., Yung-Fa Chou,, Ding-Ming Kwai,

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.21 MB

english, 2013

[IEEE 2006 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2006.10.22-2006.10.27)] 2006 IEEE International Test Conference - Signature Based Diagnosis for Logic BIST

Cheng, Wu-tung, Sharma, Manish, Rinderknecht, Thomas, Lai, Liyang, Hill, Chris

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 235 KB

english, 2006

Scan-Based Speed-Path Debug for a Microprocessor

Zeng, Jing, Guo, Ruifeng, Cheng, Wu-Tung, Mateja, Michael A., Wang, Jing

Журнал:

IEEE Design & Test of Computers

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 575 KB

english, 2012

[IEEE 22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. - Napa Valley, CA, USA (25-29 April 2004)] 22nd IEEE VLSI Test Symposium, 2004. Proceedings. - Logic BIST using constrained scan cells

Liyang Lai,, Rinderknecht, T., Wu-Tung Cheng,, Patel, J.H.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.47 MB

english, 2004

[IEEE 2014 IEEE 23rd North Atlantic Test Workshop (NATW) - Johnson City, NY, USA (2014.5.14-2014.5.16)] 2014 IEEE 23rd North Atlantic Test Workshop - Test Compression Improvement with EDT Channel Sharing in SoC Designs

Huang, Yu, Kassab, Mark, Jahangiri, Jay, Rajski, Janusz, Cheng, Wu-Tung, Han, Dongkwan, Kim, Jihye, Chung, Kun Young

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 658 KB

english, 2014

[IEEE 2015 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) - Hsinchu, Taiwan (2015.4.27-2015.4.29)] VLSI Design, Automation and Test(VLSI-DAT) - A test-application-count based learning technique for test time reduction

Lin, Guo-Yu, Tsai, Kun-Han, Huang, Jiun-Lang, Cheng, Wu-Tung

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 635 KB

english, 2015

[ACM Press the 49th Annual Design Automation Conference - San Francisco, California (2012.06.03-2012.06.07)] Proceedings of the 49th Annual Design Automation Conference on - DAC '12 - Small delay testing for TSVs in 3-D ICs

Huang, Shi-Yu, Lin, Yu-Hsiang, Tsai, Kun-Han (Hans), Cheng, Wu-Tung, Sunter, Stephen, Chou, Yung-Fa, Kwai, Ding-Ming

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 1021 KB

english, 2012

[IEEE 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS) - Limassol, Cyprus (2017.5.22-2017.5.26)] 2017 22nd IEEE European Test Symposium (ETS) - Volume diagnosis data mining

Cheng, Wu-Tung, Yue Tian,, Reddy, Sudhakar M.

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 823 KB

english, 2017

Circuit and Methodology for Testing Small Delay Faults in the Clock Network

Yang, Shao-Fu, Wen, Zhi-Yuan, Huang, Shi-Yu, Tsai, Kun-Han, Cheng, Wu-Tung

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 689 KB

english, 2018

Scan Integrity Tests for EDT Compression

Cheng, Wu-Tung, Rajski, Grzegorz Mrugalski Janusz, Trawka, Maciej, Tyszer, Jerzy

Журнал:

IEEE Design and Test

Рік:

2020

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.41 MB

english, 2020

[IEEE 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - Taipei, Taiwan (2020.9.23-2020.9.25)] 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - Estimation of Test Data Volume for Scan Architectures with Different Numbers of Input Channels

Tsai, Fong-Jyun, Ye, Chong-Siao, Huang, Yu, Lee, Kuen-Jong, Cheng, Wu-Tung, Reddy, Sudhakar M., Kassab, Mark, Rajski, Janusz, Zheng, Shi-Xuan

Рік:

2020

Файл:

PDF, 450 KB

2020

Differential fault simulation for sequential circuits

Wu-Tung Cheng, Meng-Lin Yu

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 549 KB

english, 1990

Synthesis of Scan Chains for Netlist Descriptions at RT-Level

Yu Huang, Chien-Chung Tsai, Nilanjan Mukherjee, Omer Samman, Wu-Tung Cheng, Sudhakar M. Reddy

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 678 KB

english, 2002

On Concurrent Test of Core-Based SOC Design

Yu Huang, Wu-Tung Cheng, Chien-Chung Tsai, Nilanjan Mukherjee, Omer Samman, Yahya Zaidan, Sudhakar M. Reddy

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 337 KB

english, 2002

X-Press: Two-Stage X-Tolerant Compactor With Programmable Selector

Rajski, J., Tyszer, J., Mrugalski, G., Wu-Tung Cheng, Mukherjee, N., Kassab, M.

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 588 KB

english, 2008

On Reducing Scan Shift Activity at RTL

Alpaslan, E., Yu Huang, Xijiang Lin, Wu-Tung Cheng, Dworak, J.

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.94 MB

english, 2010

PROOFS: a fast, memory-efficient sequential circuit fault simulator

Niermann, T.M., Wu-Tung Cheng, Patel, J.H.

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 874 KB

english, 1992

X-Tolerant Compactor with On-Chip Registration and Signature-Based Diagnosis

Tyszer, J., Rajski, J., Mrugalski, G., Mukherjee, N., Kassab, M., Wu-Tung Cheng, Sharma, M., Liyang Lai

Журнал:

IEEE Design & Test of Computers

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 707 KB

english, 2007

Survey of Scan Chain Diagnosis

Yu Huang, Ruifeng Guo, Wu-Tung Cheng, Li, J.C.-M.

Журнал:

IEEE Design & Test of Computers

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 502 KB

english, 2008

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - Diagnose compound scan chain and system logic defects

Yu Huang,, Will Hsu,, Yuan-Shih Chen,, Wu-Tung Cheng,, Ruifeng Guo,, Man, Albert

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.31 MB

english, 2007

[IEEE 2010 IEEE International Test Conference (ITC) - Austin, TX, USA (2010.11.2-2010.11.4)] 2010 IEEE International Test Conference - Test cycle power optimization for scan-based designs

Tsai, Kun-Han, Huang, Yu, Cheng, Wu-Tung, Tai, Ting-Pu, Kifli, Augusli

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.62 MB

english, 2010

[IEEE IEEE International Conference on Test, 2005. - Charlotte, NC, USA (Nov. 8, 2005)] IEEE International Conference on Test, 2005. - Full-speed field-programmable memory bist architecture

Xiaogang Du,, Mukherjee, N., Wu-Tung Cheng,, Reddy, S.M.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 326 KB

english, 2005

[IEEE 2002 International Test Conference - Baltimore, MD, USA (7-10 Oct. 2002)] Proceedings. International Test Conference - Optimal core wrapper width selection and SOC test scheduling based on 3-D bin packing algorithm

Yu Huang,, Reddy, S.M., Wu-Tung Cheng,, Reuter, P., Mukherjee, N., Chien-Chung Tsai,, Samman, O., Zaidan, Y.

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 546 KB

english, 2002

Diagnose Failures Caused by Multiple Locations at a Time

Ye, Jing, Hu, Yu, Li, Xiaowei, Cheng, Wu-Tung, Huang, Yu, Tang, Huaxing

Журнал:

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.38 MB

english, 2014

[IEEE Tenth Asian Test Symposium - Kyoto, Japan (19-21 Nov. 2001)] Proceedings 10th Asian Test Symposium - Resource allocation and test scheduling for concurrent test of core-based SOC design

Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,, Chien-Chung Tsai,, Mukherjee, N., Samman, O., Zaidan, Y., Reddy, S.M.

Рік:

2001

Мова:

english

Файл:

PDF, 565 KB

english, 2001

[IEEE 2013 IEEE International Test Conference (ITC) - Anaheim, CA, USA (2013.09.6-2013.09.13)] 2013 IEEE International Test Conference (ITC) - Diagnosis and Layout Aware (DLA) scan chain stitching

Ye, Jing, Huang, Yu, Hu, Yu, Cheng, Wu-Tung, Guo, Ruifeng, Lai, Liyang, Tai, Ting-Pu, Li, Xiaowei, Changchien, Weipin, Lee, Daw-Ming, Chen, Ji-Jan, Eruvathi, Sandeep C., Kumara, Kartik K., Liu, Charle

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 409 KB

english, 2013

Oscillation-Based Prebond TSV Test

Huang, Li-Ren, Huang, Shi-Yu, Sunter, Stephen, Tsai, Kun-Han, Cheng, Wu-Tung

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.90 MB

english, 2013

Diagnosis and Layout Aware (DLA) Scan Chain Stitching

Журнал:

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 6.29 MB

english, 2015

[IEEE Comput. Soc ISQED 2003: 4th International Symposium on Quality Electronic Design - San Jose, CA, USA (24-26 March 2003)] Fourth International Symposium on Quality Electronic Design, 2003. Proceedings. - Static pin mapping and SOC test scheduling for cores with multiple test sets

Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,, Chien-Chung Tsai,, Mukherjee, N., Reddy, S.M.

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 328 KB

english, 2003

[IEEE Comput. Soc Eleventh Asian Test Symposium - Guam, USA (18-20 Nov. 2002)] Proceedings of the 11th Asian Test Symposium, 2002. (ATS '02). - Core-clustering based SoC test scheduling optimization

Yu Huang,, Reddy, S.M., Wu-Tung Cheng,

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 512 KB

english, 2002

[IEEE ASP-DAC 2005. Asia and South Pacific Design Automation Conference 2005 - Shanghai, China (18-21 Jan. 2005)] Proceedings of the ASP-DAC 2005. Asia and South Pacific Design Automation Conference, 2005. - Using fault model relaxation to diagnose real scan chain defects

Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,, Crowell, G.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 745 KB

english, 2005

End Matter

Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,, Crowell, G.

Журнал:

IEEE Transactions on Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control

Рік:

1986

Мова:

english

Файл:

PDF, 378 KB

english, 1986

[IEEE 14th Asian Test Symposium (ATS'05) - Calcutta, India (2005.12.21-2005.12.21)] 14th Asian Test Symposium (ATS'05) - Achieving High Test Quality with Reduced Pin Count Testing

Jahangiri, J., Mukherjee, N., Wu-Tung Cheng,, Mahadevan, S., Press, R.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 497 KB

english, 2005

[IEEE Comput. Soc. Press European Design Automation Conference, 1990., EDAC. - Glasgow, UK (12-15 March 1990)] Proceedings of the European Design Automation Conference, 1990., EDAC. - PROOFS: a super fast fault simulator for sequential circuits

Wu-Tung Cheng,, Patel, J.H.

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 461 KB

english, 1990

[IEEE Proceedings of the 7th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials (Cat No 03CH37417) ATS-03 - Xi'an, China (2003.11.19-2003.11.19)] Proceedings of the 7th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials (Cat No 03CH37417) ATS-03 - Testing delay faults in embedded CAMs

Xiaogang Du,, Reddy,, Rayhawk,, Wu-Tung Cheng,

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 209 KB

english, 2003

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - Faster defect localization in nanometer technology based on defective cell diagnosis

Manish Sharma,, Wu-Tung Cheng,, Ting-Pu Tai,, Cheng, Y.S., Will Hsu,, Chen Liu,, Reddy, Sudhakar M., Mann, Albert

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 839 KB

english, 2007

[IEEE 2006 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2006.10.22-2006.10.27)] 2006 IEEE International Test Conference - Diagnosis with Limited Failure Information

Huang, Yu, Cheng, Wu-tung, Tamarapalli, Nagesh, Rajski, Janusz, Klingenberg, Randy, Hsu, Will, Chen, Yuan-shih

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 10.93 MB

english, 2006

[IEEE IEEE International Conference on Test, 2005. - Charlotte, NC, USA (Nov. 8, 2005)] IEEE International Conference on Test, 2005. - Compressed pattern diagnosis for scan chain failures

Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,, Rajski, J.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 329 KB

english, 2005

[IEEE 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - Vancouver, BC, Canada (2011.10.3-2011.10.5)] 2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems - Diagnosis of Multiple Faults Based on Fault-Tuple Equivalence Tree

Tang, Xun, Cheng, Wu-Tung, Guo, Ruifeng, Tang, Huaxing, Reddy, Sudhakar M.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 339 KB

english, 2011

[IEEE 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS) - Berkeley, CA (2013.4.29-2013.5.2)] 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS) - Distributed dynamic partitioning based diagnosis of scan chain

Yu Huang,, Xiaoxin Fan,, Huaxing Tang,, Sharma, M., Wu-Tung Cheng,, Benware, B., Reddy, S. M.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 708 KB

english, 2013

[IEEE 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008) - San Diego, CA, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008) - Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects

Spinner, Stefan, Polian, Ilia, Engelke, Piet, Becker, Bernd, Keim, Martin, Cheng, Wu-Tung

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 250 KB

english, 2008

Programmable Leakage Test and Binning for TSVs With Self-Timed Timing Control

Huang, Shi-Yu, Lin, Yu-Hsiang, Huang, Li-Ren, Tsai, Kun-Han, Cheng, Wu-Tung

Журнал:

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 9.02 MB

english, 2013

[IEEE 2008 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA (2008.10.28-2008.10.30)] 2008 IEEE International Test Conference - Detection and Diagnosis of Static Scan Cell Internal Defect

Ruifeng Guo,, Liyang Lai,, Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 283 KB

english, 2008

[IEEE 2007 IEEE International Test Conference - Santa Clara, CA, USA (2007.10.21-2007.10.26)] 2007 IEEE International Test Conference - A complete test set to diagnose scan chain failures

Ruifeng Guo,, Yu Huang,, Wu-Tung Cheng,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 2007

[IEEE 2012 21st Asian Test Symposium (ATS) - Niigata, Japan (2012.11.19-2012.11.22)] 2012 IEEE 21st Asian Test Symposium - Diagnosis of Cell Internal Defects with Multi-cycle Test Patterns

Fan, Xiaoxin, Sharma, Manish, Cheng, Wu-Tung, Reddy, Sudhakar M.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 224 KB

english, 2012

[IEEE Comput. Soc . 17th International Conference on VLSI Design - Mumbai, India (5-9 Jan. 2004)] 17th International Conference on VLSI Design. Proceedings. - At-speed built-in self-repair analyzer for embedded word-oriented memories

Xiaogang Du,, Reddy, S.M., Wu-Tung Cheng,, Rayhawk, J., Mukherjee, N.

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 264 KB

english, 2004

[IEEE IEEE International Conference on Test, 2005. - Charlotte, NC, USA (Nov. 8, 2005)] IEEE International Conference on Test, 2005. - X-filter: filtering unknowns from compacted test responses

Sharma, M., Wu-Tung Cheng,

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 242 KB

english, 2005

[IEEE Proceedings of the 7th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials (Cat No 03CH37417) ATS-03 - Xi'an, China (2003.11.19-2003.11.19)] Proceedings of the 7th International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials (Cat No 03CH37417) ATS-03 - Efficient diagnosis for multiple intermittent scan chain hold-time faults

Yu Huang,, Huan-Yung Tseng,, Wu-Tung Cheng,, Alou Huang,, Cheng-Ju Hsieh,, Yu-Ting Hung,

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 245 KB

english, 2003

[IEEE 14th Asian Test Symposium (ATS'05) - Calcutta, India (2005.12.21-2005.12.21)] 14th Asian Test Symposium (ATS'05) - Bridge Defect Diagnosis with Physical Information

Wei Zou,, Wu-Tung Cheng,, Reddy, S.M.

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 205 KB

english, 2005